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馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術(shù)的新成果，是低成本小型臺式XRF儀器。

X射線熒光光譜儀 （XRF） 能夠?qū)Χ喾N材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀Zetium專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計，其高品質(zhì)的設(shè)計和功能，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。

由于時間關(guān)鍵型過程控制或運行樣品高處理量，您是否需要在幾秒鐘內(nèi)對化學成分進行無損分析？ 同時測量多達 28 種元素，濃度范圍為從 ppm 至 100％，馬爾文帕納科多道同時式波長色散型X射線熒光光譜儀Axios FAST 是理想的解決方案。 準確而強大的分析，即使經(jīng)驗不足的員工也可方便地操作，同時正常運行時間長，擁有成本低。

馬爾文帕納科推出的臺式XRF Epsilon 4 臺式X射線熒光光譜儀將新的激發(fā)和檢測技術(shù)于智能設(shè)計相結(jié)合，其分析更能更接近于功率更高的落地式光譜儀。多重優(yōu)化的 X 射線輸出和探測系統(tǒng)確保您擁有Z杰出的系統(tǒng)性能。

馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 專門針對半導體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設(shè)計，該儀器可為多種晶片（厚達 300 mm）測定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。