納米顆粒的粒度及其分布是表征其性能的主要參數(shù)，因此對納米顆粒粒度的準確測量具有重要意義。

馬爾文帕納科納米粒度電位儀ZetasizerUltra是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，在結合了ZetasizerPro和Lab所有特性和優(yōu)點的基礎上，增加了多角度動態(tài)光散射技術（MADLS®），是Zetasizer Advance系列中更智能和靈活的儀器。

ZetasizerUltra融合了功能強大的DLS與ELS系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射(NIBS)和*的多角動態(tài)光散射(MADLS)技術來測量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而MADLS則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。

優(yōu)點包括：
1、用于高分辨率粒度測量且與角度無關的多角動態(tài)光散射法(MADLS)可以更深入地展現(xiàn)您的樣品粒度分布
2、動態(tài)光散射(DLS)用于測量從0.3nm到15µm的顆粒和分子的粒度及粒度分布（使用低容量可拋棄粒度樣品池和擴展粒度分析可以測試粒度大于10µm；取決于樣品和樣品制備）
3、電泳光散射(ELS)用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團聚傾向性
4、非侵入背散射(NIBS)技術顯著擴大了動態(tài)范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實現(xiàn)高靈敏度
5、簡單的每峰值濃度/滴度測量（僅限紅標RedLabel版本）
6、可拋棄型毛細管粒度測量樣品池提供了無損、低容量（*3µL）分析，并且粒度上限范圍可達到15μm
7、具有恒流模式的M3-PALS可以在高導電介質中測量Zeta電位和電泳遷移率
8、以樣品為中心的ZSXplorer軟件可以實現(xiàn)靈活的指導式使用，并可輕松構建復雜的模型
9、“自適應相關”算法能生成可靠且可重復的數(shù)據(jù)，同時計算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量，實現(xiàn)更具代表性的樣品視圖
10、通過深度學習實現(xiàn)的數(shù)據(jù)質量系統(tǒng)可以評估粒度數(shù)據(jù)質量問題，并針對如何改進結果提供明確的建議
11、使用靜態(tài)光散射（90°）測量分子量
12、軟件符合21CFRPart11法規(guī)
13、濾光片轉盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實現(xiàn)分析靈活性
14、可選的MPT-3自動滴定儀可幫助研究pH值變化的影響
15、一系列可拋棄和可重復使用的樣品池可優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進行樣品量小到3µL的粒度測量，也擴展了DLS測量的粒度上限范圍。